葉面積指數(shù)式植物生產(chǎn)力的一個(gè)重要指標(biāo)，很多農(nóng)業(yè)種植工作人員都會(huì)通過對(duì)葉面積指數(shù)的測定來對(duì)植物進(jìn)行合理的農(nóng)事作業(yè)。葉面積指數(shù)的測定方法有很多種，可分為直接測量和間接測量，那么，具體葉面積指數(shù)測定有哪些呢？

1、點(diǎn)接觸法：點(diǎn)接觸法是用細(xì)探針以不同的高度角和方位角刺入冠層，然后記錄細(xì)探針從冠層頂部到達(dá)底部的過程中針尖所接觸的葉片數(shù)目。

2、消光系數(shù)法：該法通過測定冠層上下輻射以及與消光系數(shù)該法通過測定冠層上下輻射以及與消光系數(shù)相關(guān)的參數(shù)來計(jì)算葉面積指數(shù)。

3、經(jīng)驗(yàn)公式法：經(jīng)驗(yàn)公式法利用植物的胸徑、樹高、邊材面積、冠幅等容易測量的參數(shù)與葉面積或葉面積指數(shù)的相關(guān)關(guān)系建立經(jīng)驗(yàn)公式來計(jì)算。

4、遙感方法：衛(wèi)星遙感方法為大范圍研究LA I提供了有效的途徑。主要有2種遙感方法可用來估算葉面積指數(shù)，一種是統(tǒng)計(jì)模型法。另一種是光學(xué)模型法。

5、光學(xué)儀器法：光學(xué)儀器法按測量原理分為基于輻射測量的方法和基于圖像測量的方法。

6、儀器測定法：該方法是采用葉面積指數(shù)測定儀，它是根據(jù)比爾定律以及冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理，通過圖像傳感器測量冠層數(shù)據(jù)和獲取植物冠層圖像，利用軟件對(duì)所得圖像和數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計(jì)算，得出冠層相關(guān)指標(biāo)和參數(shù)。